Katalog CVE

CVE-2026-25266

ŚrednieCVSS 5.5
Opublikowano: Zaktualizowano: Przetłumaczono: NVD NIST

Prawdopodobieństwo exploitacji (EPSS)

Niskie ryzyko
0.07%

Percentyl 0 - wyżej niż 0% wszystkich znanych CVE

Streszczenie

Podatność polegająca na uszkodzeniu pamięci podczas przetwarzania polecenia IOCTL, gdy urządzenie znajduje się w stanie oszczędzania energii.

Ocena ryzyka

Uszkodzenie pamięci może prowadzić do awarii urządzenia lub potencjalnie do wykonania nieoczekiwanego kodu.

Rekomendacja

Zaktualizuj oprogramowanie układowe urządzenia do wersji zawierającej poprawkę i ogranicz dostęp do interfejsu IOCTL.

Powiązane podatności

Oryginalny opis (angielski, źródło NVD)

Memory corruption while processing IOCTL command when device is in power-save state.

Dane podatności pochodzą z NVD (NIST) · CISA KEV · EPSS